TEM characterization of single and multiple InGaAs/GaAs quantum wires grown by metal-organic vapor phase epitaxy on V-grooved substrates: Fid-Bau Portal

TEM characterization of single and multiple InGaAs/GaAs quantum wires grown by metal-organic vapor phase epitaxy on V-grooved substrates

Taurino, A. / Catalano, M. / Vasanelli, L. / Passaseo, A. / Rinaldi, R. / Cingolani, R.

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Titel:

TEM characterization of single and multiple InGaAs/GaAs quantum wires grown by metal-organic vapor phase epitaxy on V-grooved substrates

Beteiligte:

Taurino, A. (Autor:in) / Catalano, M. (Autor:in) / Vasanelli, L. (Autor:in) / Passaseo, A. (Autor:in) / Rinaldi, R. (Autor:in) / Cingolani, R. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- B ; 67 ; 39 - 45

Erscheinungsdatum:

01.01.1999

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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