Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    A comparison of preparation methods of copper surfaces for in situ scanning force microscopy investigations

    Neue Suche nach: Wadsak, M.
    Neue Suche nach: Schreiner, M.
    Neue Suche nach: Aastrup, T.
    Neue Suche nach: Leygraf, C.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    A comparison of preparation methods of copper surfaces for in situ scanning force microscopy investigations

    Neue Suche nach: Wadsak, M.
    Neue Suche nach: Schreiner, M.
    Neue Suche nach: Aastrup, T.
    Neue Suche nach: Leygraf, C.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    A comparison of preparation methods of copper surfaces for in situ scanning force microscopy investigations

    Neue Suche nach: Wadsak, M.
    Neue Suche nach: Schreiner, M.
    Neue Suche nach: Aastrup, T.
    Neue Suche nach: Leygraf, C.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    A comparison of preparation methods of copper surfaces for in situ scanning force microscopy investigations

    Beteiligte:

    Wadsak, M. (Autor:in) / Schreiner, M. (Autor:in) / Aastrup, T. (Autor:in) / Leygraf, C. (Autor:in)

    Erschienen in:

    APPLIED SURFACE SCIENCE ; 157 ; 39-46

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    8 pages

    ISSN:

    0169-4332

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.35

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy

    Cohen, Samuel H. | TIBKAT | 1994

    Characterization of post-copper CMP surfaces with scanning probe microscopy

    Dominget, A. / Farkas, J. / Szunerits, S. | British Library Online Contents | 2006

    Atomic and chemical resolution in scanning force microscopy on ionic surfaces

    Livshits, A. I. / Shluger, A. L. | British Library Online Contents | 1999

    A comparison of nucleation and growth investigations of thin films using scanning tunneling microscopy, atomic force microscopy and X-ray scattering

    Dharmadhikari, C. V. / Ali, A. O. / Suresh, N. et al. | British Library Online Contents | 2000

    Atomic Force Microscopy/Scanning Tunneling Microscopy 2

    Cohen, Samuel H. | TIBKAT | 1997

    Nach oben