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    Titel:

    Transients during pre-breakdown and hard breakdown of thin gate oxides in metal-SiO2-Si capacitors

    Beteiligte:

    Lombardo, S. (Autor:in) / Crupi, F. (Autor:in) / Spinella, C. (Autor:in) / Neri, B. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 2 ; 359-367

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1999

    Format / Umfang:

    9 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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