Characterization of SiC MESFETs on Conducting Substrates: Fid-Bau Portal

Characterization of SiC MESFETs on Conducting Substrates

Nilsson, P. A. / Saroukhan, A. M. / Svedberg, J.-O. / Konstantinov, A. / Karlsson, S. / Adas, C. / Gustafsson, U. / Harris, C. / Rorsman, N. / Eriksson, J.

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Nilsson, P. A. / Saroukhan, A. M. / Svedberg, J.-O. / Konstantinov, A. / Karlsson, S. / Adas, C. / Gustafsson, U. / Harris, C. / Rorsman, N. / Eriksson, J.

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Nilsson, P. A. / Saroukhan, A. M. / Svedberg, J.-O. / Konstantinov, A. / Karlsson, S. / Adas, C. / Gustafsson, U. / Harris, C. / Rorsman, N. / Eriksson, J.

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Titel:

Characterization of SiC MESFETs on Conducting Substrates

Beteiligte:

Nilsson, P. A. (Autor:in) / Saroukhan, A. M. (Autor:in) / Svedberg, J.-O. (Autor:in) / Konstantinov, A. (Autor:in) / Karlsson, S. (Autor:in) / Adas, C. (Autor:in) / Gustafsson, U. (Autor:in) / Harris, C. (Autor:in) / Rorsman, N. (Autor:in) / Eriksson, J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 338/342 ; 1255-1258

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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