RF Performance and Reliability of SiC MESFETs on High Purity Semi-Insulating Substrates: Fid-Bau Portal

RF Performance and Reliability of SiC MESFETs on High Purity Semi-Insulating Substrates

Sriram, S. / Ward, A. / Janke, C. / Alcorn, T. / Hagleitner, H. / Henning, J. / Wieber, K. / Jenny, J. / Sumakeris, J. / Allen, S.

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Titel:

RF Performance and Reliability of SiC MESFETs on High Purity Semi-Insulating Substrates

Beteiligte:

Sriram, S. (Autor:in) / Ward, A. (Autor:in) / Janke, C. (Autor:in) / Alcorn, T. (Autor:in) / Hagleitner, H. (Autor:in) / Henning, J. (Autor:in) / Wieber, K. (Autor:in) / Jenny, J. (Autor:in) / Sumakeris, J. (Autor:in) / Allen, S. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 457/460 ; 1205-1208

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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