Comparison of Different Epitaxial Lateral Overgrowth GaN Structures using SiO~2 and Tungsten Mask by Cathodoluminescence Microscopy and Micro-Raman Spectroscopy: Fid-Bau Portal

Comparison of Different Epitaxial Lateral Overgrowth GaN Structures using SiO~2 and Tungsten Mask by Cathodoluminescence Microscopy and Micro-Raman Spectroscopy

Bertram, F. / Riemann, T. / Rudloff, D. / Christen, J. / Kaschner, A. / Hoffmann, A. / Hiramatsu, K.

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Titel:

Comparison of Different Epitaxial Lateral Overgrowth GaN Structures using SiO~2 and Tungsten Mask by Cathodoluminescence Microscopy and Micro-Raman Spectroscopy

Beteiligte:

Bertram, F. (Autor:in) / Riemann, T. (Autor:in) / Rudloff, D. (Autor:in) / Christen, J. (Autor:in) / Kaschner, A. (Autor:in) / Hoffmann, A. (Autor:in) / Hiramatsu, K. (Autor:in)