Anisotropic Dielectric Function Properties of Semi-Insulating 4H-SiC Determined from Spectroscopic Ellipsometry: Fid-Bau Portal

Anisotropic Dielectric Function Properties of Semi-Insulating 4H-SiC Determined from Spectroscopic Ellipsometry

Kildemo, M. / Mooney, M. B. / Kelly, P. V. / Sudre, C. / Crean, G. M.

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Titel:

Anisotropic Dielectric Function Properties of Semi-Insulating 4H-SiC Determined from Spectroscopic Ellipsometry

Beteiligte:

Kildemo, M. (Autor:in) / Mooney, M. B. (Autor:in) / Kelly, P. V. (Autor:in) / Sudre, C. (Autor:in) / Crean, G. M. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 338/342 ; 571-574

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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