X-ray photoelectron and Raman spectroscopy of nanocrystalline Ga0.62In0.38Sb-SiO2 composite films: Fid-Bau Portal

X-ray photoelectron and Raman spectroscopy of nanocrystalline Ga0.62In0.38Sb-SiO2 composite films

Liu, F. M. / Zhang, L. D. / Zheng, M. J. / Li, G. H.

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Titel:

X-ray photoelectron and Raman spectroscopy of nanocrystalline Ga0.62In0.38Sb-SiO2 composite films

Beteiligte:

Liu, F. M. (Autor:in) / Zhang, L. D. (Autor:in) / Zheng, M. J. (Autor:in) / Li, G. H. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 158 ; 281-286

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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