Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Defect engineering of Czochralski single-crystal silicon

    Neue Suche nach: Sinno, T.
    Neue Suche nach: Dornberger, E.
    Neue Suche nach: von Ammon, W.
    Neue Suche nach: Brown, R. A.
    Neue Suche nach: Dupret, F.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Defect engineering of Czochralski single-crystal silicon

    Neue Suche nach: Sinno, T.
    Neue Suche nach: Dornberger, E.
    Neue Suche nach: von Ammon, W.
    Neue Suche nach: Brown, R. A.
    Neue Suche nach: Dupret, F.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Defect engineering of Czochralski single-crystal silicon

    Neue Suche nach: Sinno, T.
    Neue Suche nach: Dornberger, E.
    Neue Suche nach: von Ammon, W.
    Neue Suche nach: Brown, R. A.
    Neue Suche nach: Dupret, F.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Defect engineering of Czochralski single-crystal silicon

    Beteiligte:

    Sinno, T. (Autor:in) / Dornberger, E. (Autor:in) / von Ammon, W. (Autor:in) / Brown, R. A. (Autor:in) / Dupret, F. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- R REPORTS- ; 28 ; 149-198

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2000

    Format / Umfang:

    50 pages

    ISSN:

    0927-796X

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1 / 530

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    Impurity engineering of Czochralski silicon

    Yu, X. / Chen, J. / Ma, X. et al. | British Library Online Contents | 2013

    Oxygen transportation during Czochralski silicon crystal growth

    Hoshikawa, K. / Huang, X. | British Library Online Contents | 2000

    Carbon/carbon heater with silicon carbide coating for Czochralski silicon single crystal furnace

    FAN QIANGUO / JIA WULIN / HOU GUANGYUAN et al. | Europäisches Patentamt | 2020

    Freier Zugriff

    Fundamentals of Point Defect Aggregation and Dissolution Phenomena of Crystal Originated Defects in Czochralski Silicon

    Wijaranakula, W. | British Library Online Contents | 1995

    Infrared Studies of VO~2 Defect in Electron Irradiated Czochralski Silicon

    Cai, L.-l. / Feng, C.-j. / Chen, G.-f. | British Library Online Contents | 2014

    Nach oben