Orientation dependence of ferroelectric properties of Pb(ZrxTi1-x)O3 thin films on Pt/SiO2/Si substrates: Fid-Bau Portal

Orientation dependence of ferroelectric properties of Pb(ZrxTi1-x)O3 thin films on Pt/SiO2/Si substrates

Fujita, H. / Imade, M. / Sakashita, M. / Sakai, A. / Zaima, S. / Yasuda, Y.

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Titel:

Orientation dependence of ferroelectric properties of Pb(ZrxTi1-x)O3 thin films on Pt/SiO2/Si substrates

Beteiligte:

Fujita, H. (Autor:in) / Imade, M. (Autor:in) / Sakashita, M. (Autor:in) / Sakai, A. (Autor:in) / Zaima, S. (Autor:in) / Yasuda, Y. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 159-160 ; 134-137

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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