Electronic surface structure of CoSi2(111)/Si(111): implications for ballistic electron-emission microscopy currents: Fid-Bau Portal

Electronic surface structure of CoSi2(111)/Si(111): implications for ballistic electron-emission microscopy currents

Reuter, K. / de Andres, P. L. / Garcia-Vidal, F. J. / Flores, F. / Heinz, K.

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Titel:

Electronic surface structure of CoSi2(111)/Si(111): implications for ballistic electron-emission microscopy currents

Beteiligte:

Reuter, K. (Autor:in) / de Andres, P. L. (Autor:in) / Garcia-Vidal, F. J. (Autor:in) / Flores, F. (Autor:in) / Heinz, K. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 166 ; 103-107

Erscheinungsdatum:

01.01.2000

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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