X-ray Diffraction, Micro-Raman and Birefringence Imaging of Silicon Carbide: Fid-Bau Portal

X-ray Diffraction, Micro-Raman and Birefringence Imaging of Silicon Carbide

Pernot, E. / Mermoux, M. / Kreisel, J. / Chaix-Pluchery, O. / Pernot-Rejmankova, P. / Anikin, M. / Pelissier, B. / Glazer, A. M. / Madar, R.

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Pernot, E. / Mermoux, M. / Kreisel, J. / Chaix-Pluchery, O. / Pernot-Rejmankova, P. / Anikin, M. / Pelissier, B. / Glazer, A. M. / Madar, R.

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Titel:

X-ray Diffraction, Micro-Raman and Birefringence Imaging of Silicon Carbide

Beteiligte:

Pernot, E. (Autor:in) / Mermoux, M. (Autor:in) / Kreisel, J. (Autor:in) / Chaix-Pluchery, O. (Autor:in) / Pernot-Rejmankova, P. (Autor:in) / Anikin, M. (Autor:in) / Pelissier, B. (Autor:in) / Glazer, A. M. (Autor:in) / Madar, R. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 353/356 ; 283-286

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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