Grazing incidence structural characterization of InAs quantum dots on GaAs(0 0 1): Fid-Bau Portal

Grazing incidence structural characterization of InAs quantum dots on GaAs(0 0 1)

Zhang, K. / Heyn, C. / Hansen, W. / Schmidt, T. / Falta, J.

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Titel:

Grazing incidence structural characterization of InAs quantum dots on GaAs(0 0 1)

Beteiligte:

Zhang, K. (Autor:in) / Heyn, C. (Autor:in) / Hansen, W. (Autor:in) / Schmidt, T. (Autor:in) / Falta, J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 175-176 ; 606-612

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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