Temperature dependence of resistance in reactively sputtered RuO~2 thin films: Fid-Bau Portal

Temperature dependence of resistance in reactively sputtered RuO~2 thin films

Tong, K. Y. / Jelenkovic, V. / Cheung, W. Y. / Wong, S. P.

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Titel:

Temperature dependence of resistance in reactively sputtered RuO~2 thin films

Beteiligte:

Tong, K. Y. (Autor:in) / Jelenkovic, V. (Autor:in) / Cheung, W. Y. (Autor:in) / Wong, S. P. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 20 ; 699-700

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

2 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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