AES depth profiling multilayers of 3d transition metals: Fid-Bau Portal

AES depth profiling multilayers of 3d transition metals

Baunack, S. / Menzel, S. / Bruckner, W. / Elefant, D.

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Titel:

AES depth profiling multilayers of 3d transition metals

Beteiligte:

Baunack, S. (Autor:in) / Menzel, S. (Autor:in) / Bruckner, W. (Autor:in) / Elefant, D. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 179 ; 25-29

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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