SIMS depth profiling of deuterium labeled polymers in polymer multilayers: Fid-Bau Portal

SIMS depth profiling of deuterium labeled polymers in polymer multilayers

Harton, S. E. / Stevie, F. A. / Griffis, D. P. / Ade, H.

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Titel:

SIMS depth profiling of deuterium labeled polymers in polymer multilayers

Beteiligte:

Harton, S. E. (Autor:in) / Stevie, F. A. (Autor:in) / Griffis, D. P. (Autor:in) / Ade, H. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 7224-7227

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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