Investigation of the structure of damage layers in TEM samples prepared using a focused ion beam: Fid-Bau Portal

Investigation of the structure of damage layers in TEM samples prepared using a focused ion beam

Rubanov, S. / Munroe, P. R.

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Titel:

Investigation of the structure of damage layers in TEM samples prepared using a focused ion beam

Beteiligte:

Rubanov, S. (Autor:in) / Munroe, P. R. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF MATERIALS SCIENCE LETTERS ; 20 ; 1181-1184

Erscheinungsdatum:

01.01.2001

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0261-8028

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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