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    Titel:

    Investigation of the role of compositional effects on electromigration damage of metallic interconnects

    Beteiligte:

    Pennetta, C. (Autor:in) / Reggiani, L. (Autor:in) / Trefan, G. (Autor:in) / Fantini, F. (Autor:in) / Scorzoni, A. (Autor:in) / De Munari, I. (Autor:in)

    Erschienen in:

    COMPUTATIONAL MATERIALS SCIENCE ; 22 ; 13-18

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2001

    Format / Umfang:

    6 pages

    ISSN:

    0927-0256

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.1 / 510

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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