Electrical Characterization of High-Voltage 4H-SiC Diodes on High-Temperature CVD-Grown Epitaxial Layers: Fid-Bau Portal

Electrical Characterization of High-Voltage 4H-SiC Diodes on High-Temperature CVD-Grown Epitaxial Layers

Zimmermann, U. / Osterman, J. / Zhang, J. / Henry, A. / Hallen, A.

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Titel:

Electrical Characterization of High-Voltage 4H-SiC Diodes on High-Temperature CVD-Grown Epitaxial Layers

Beteiligte:

Zimmermann, U. (Autor:in) / Osterman, J. (Autor:in) / Zhang, J. (Autor:in) / Henry, A. (Autor:in) / Hallen, A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 1285-1288

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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