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New and Improved Quantitative Characterization of SiC Using SIMS

Wang, L. / Sams, D. B. / Wang, A. / Park, B.-S.

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Titel:

New and Improved Quantitative Characterization of SiC Using SIMS

Beteiligte:

Wang, L. (Autor:in) / Sams, D. B. (Autor:in) / Wang, A. (Autor:in) / Park, B.-S. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 389/393 ; 581-584

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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