Raman scattering, photoluminescence, and X-ray diffraction studies of GaN layers grown on misoriented sapphire substrates: Fid-Bau Portal

Raman scattering, photoluminescence, and X-ray diffraction studies of GaN layers grown on misoriented sapphire substrates

Benyoucef, M. / Kuball, M. / Koleske, D. D. / Wickenden, A. E. / Henry, R. L. / Fatemi, M. / Twigg, M. E.

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Titel:

Raman scattering, photoluminescence, and X-ray diffraction studies of GaN layers grown on misoriented sapphire substrates

Beteiligte:

Benyoucef, M. (Autor:in) / Kuball, M. (Autor:in) / Koleske, D. D. (Autor:in) / Wickenden, A. E. (Autor:in) / Henry, R. L. (Autor:in) / Fatemi, M. (Autor:in) / Twigg, M. E. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 93 ; 15 - 18

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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