A phase field model for failure in interconnect lines due to coupled diffusion mechanisms: Fid-Bau Portal

A phase field model for failure in interconnect lines due to coupled diffusion mechanisms

Bhate, D. N. / Bower, A. F. / Kumar, A.

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Titel:

A phase field model for failure in interconnect lines due to coupled diffusion mechanisms

Beteiligte:

Bhate, D. N. (Autor:in) / Bower, A. F. (Autor:in) / Kumar, A. (Autor:in)

Erschienen in:

JOURNAL OF THE MECHANICS AND PHYSICS OF SOLIDS ; 50 ; 2057-2083

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

27 pages

ISSN:

0022-5096

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 530 / 620

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