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Rietveld Texture and Stress Analysis of Thin Films by X-Ray Diffraction

Lutterotti, L. / Matthies, S. / Chateigner, D. / Ferrari, S. / Ricote, J.

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Titel:

Rietveld Texture and Stress Analysis of Thin Films by X-Ray Diffraction

Beteiligte:

Lutterotti, L. (Autor:in) / Matthies, S. (Autor:in) / Chateigner, D. (Autor:in) / Ferrari, S. (Autor:in) / Ricote, J. (Autor:in) / Lee, D. N.

Erschienen in:

Textures of Materials ICOTOM 13 Part 2 ; 1603-1608

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 408/412

Erscheinungsdatum:

01.01.2002

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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