Stress and Texture Analysis in Thin Films and Coatings by X-Ray Diffraction: Fid-Bau Portal

Stress and Texture Analysis in Thin Films and Coatings by X-Ray Diffraction

Pina, J. C. P. / Marques, M. J. / dos Santos, J. M. M. / Dias, A. M.

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Titel:

Stress and Texture Analysis in Thin Films and Coatings by X-Ray Diffraction

Beteiligte:

Pina, J. C. P. (Autor:in) / Marques, M. J. (Autor:in) / dos Santos, J. M. M. (Autor:in) / Dias, A. M. (Autor:in) / Vilarinho, P. M.

Erschienen in:

Advanced Materials Forum III PART 2: Proceedings of the III International Materials Symposium Materiais 2005 and XII Encontro da Sociedade Portuguesa de Materiais - SPM Universidade de Aveiro, March 20-23, Aveiro, Portugal, 2005 ; 1613-1617

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 514/516

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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