Characterization of polymer solar cells by TOF-SIMS depth profiling: Fid-Bau Portal

Characterization of polymer solar cells by TOF-SIMS depth profiling

Bulle-Lieuwma, C. W. / van Gennip, W. J. / van Duren, J. K. / Jonkheijm, P. / Janssen, R. A. / Niemantsverdriet, J. W.

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Titel:

Characterization of polymer solar cells by TOF-SIMS depth profiling

Beteiligte:

Bulle-Lieuwma, C. W. (Autor:in) / van Gennip, W. J. (Autor:in) / van Duren, J. K. (Autor:in) / Jonkheijm, P. (Autor:in) / Janssen, R. A. (Autor:in) / Niemantsverdriet, J. W. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 547-550

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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