TOF-SIMS depth profiling of SIMON: Fid-Bau Portal

TOF-SIMS depth profiling of SIMON

Xin, G. / Dong, G. / Xu, C. / Liangzhen, C. / Brox, O. / Benninghoven, A.

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Titel:

TOF-SIMS depth profiling of SIMON

Beteiligte:

Xin, G. (Autor:in) / Dong, G. (Autor:in) / Xu, C. (Autor:in) / Liangzhen, C. (Autor:in) / Brox, O. (Autor:in) / Benninghoven, A. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 441-444

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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