Time-of-flight-SIMS and XPS characterization of metal doped polymers: Fid-Bau Portal

Time-of-flight-SIMS and XPS characterization of metal doped polymers

Gross, T. / Retzko, I. / Friedrich, J. / Unger, W.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Time-of-flight-SIMS and XPS characterization of metal doped polymers

Gross, T. / Retzko, I. / Friedrich, J. / Unger, W.

Time-of-flight-SIMS and XPS characterization of metal doped polymers

Gross, T. / Retzko, I. / Friedrich, J. / Unger, W.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Time-of-flight-SIMS and XPS characterization of metal doped polymers

Beteiligte:

Gross, T. (Autor:in) / Retzko, I. (Autor:in) / Friedrich, J. (Autor:in) / Unger, W. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 203-204 ; 575-579

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

Hoshi, T. / Kudo, M. | British Library Online Contents | 2003

SIMS with time-of-flight option

British Library Online Contents | 2006

Electron flood gun damage in the analysis of polymers and organics in time-of-flight SIMS

Gilmore, I. S. / Seah, M. P. | British Library Online Contents | 2002

G-SIMS of thermosetting polymers

Hawtin, P. N. / Abel, M. L. / Watts, J. F. et al. | British Library Online Contents | 2006

Time-of-flight secondary ion mass spectrometry (TOF-SIMS) for high-throughput characterization of biosurfaces

Roberson, S. / Sehgal, A. / Fahey, A. et al. | British Library Online Contents | 2003

Nach oben