Ion beam-induced nanostructuring of AIIIBV semiconductor surfaces studied with dynamic force microscopy and Kelvin probe force spectroscopy: Fid-Bau Portal

Ion beam-induced nanostructuring of AIIIBV semiconductor surfaces studied with dynamic force microscopy and Kelvin probe force spectroscopy

Krok, F. / Kolodziej, J. / Such, B. / Piatkowski, P. / Szymonski, M.

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Titel:

Ion beam-induced nanostructuring of AIIIBV semiconductor surfaces studied with dynamic force microscopy and Kelvin probe force spectroscopy

Beteiligte:

Krok, F. (Autor:in) / Kolodziej, J. (Autor:in) / Such, B. (Autor:in) / Piatkowski, P. (Autor:in) / Szymonski, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 210 ; 112-116

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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