Auger electron spectroscopy determination of surface self-diffusion coefficients from growth of voids in thin deposited films: Fid-Bau Portal

Auger electron spectroscopy determination of surface self-diffusion coefficients from growth of voids in thin deposited films

Beszeda, I. / Szabo, I. A. / Gontier-Moya, E. G.

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Titel:

Auger electron spectroscopy determination of surface self-diffusion coefficients from growth of voids in thin deposited films

Beteiligte:

Beszeda, I. (Autor:in) / Szabo, I. A. (Autor:in) / Gontier-Moya, E. G. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 212-213 ; 787-791

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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