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Study of trap centres in silicon nanocrystal memories

Souifi, A. / Brounkov, P. / Bernardini, S. / Busseret, C. / Militaru, L. / Guillot, G. / Baron, T.

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Titel:

Study of trap centres in silicon nanocrystal memories

Beteiligte:

Souifi, A. (Autor:in) / Brounkov, P. (Autor:in) / Bernardini, S. (Autor:in) / Busseret, C. (Autor:in) / Militaru, L. (Autor:in) / Guillot, G. (Autor:in) / Baron, T. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 102 ; 99-107

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

9 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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