Trap States in Oxidation Layer of Nanocrystal Si: Fid-Bau Portal

Trap States in Oxidation Layer of Nanocrystal Si

Huang, W.-q. / Qin, C.-j. / Xu, L. / Wu, K.-y.

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Titel:

Trap States in Oxidation Layer of Nanocrystal Si

Beteiligte:

Huang, W.-q. (Autor:in) / Qin, C.-j. (Autor:in) / Xu, L. (Autor:in) / Wu, K.-y. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -HANGZHOU- ; 27 ; 125-128

Erscheinungsdatum:

01.01.2009

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

1673-2812

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Unbekannt

Klassifikation:

DDC: 620.11

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