Kelvin probe force microscopy on III-V semiconductors: the effect of surface defects on the local work function: Fid-Bau Portal

Kelvin probe force microscopy on III-V semiconductors: the effect of surface defects on the local work function

Glatzel, T. / Sadewasser, S. / Shikler, R. / Rosenwaks, Y. / Lux-Steiner, M. C.

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Titel:

Kelvin probe force microscopy on III-V semiconductors: the effect of surface defects on the local work function

Beteiligte:

Glatzel, T. (Autor:in) / Sadewasser, S. (Autor:in) / Shikler, R. (Autor:in) / Rosenwaks, Y. (Autor:in) / Lux-Steiner, M. C. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 102 ; 138-142

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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