Structural and electrical characterization of epitaxial 4H-SiC layers for power electronic device applications: Fid-Bau Portal

Structural and electrical characterization of epitaxial 4H-SiC layers for power electronic device applications

Scaltrito, L. / Porro, S. / Cocuzza, M. / Giorgis, F. / Pirri, C. F. / Mandracci, P. / Ricciardi, C. / Ferrero, S. / Sgorlon, C. / Richieri, G.

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Scaltrito, L. / Porro, S. / Cocuzza, M. / Giorgis, F. / Pirri, C. F. / Mandracci, P. / Ricciardi, C. / Ferrero, S. / Sgorlon, C. / Richieri, G.

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Scaltrito, L. / Porro, S. / Cocuzza, M. / Giorgis, F. / Pirri, C. F. / Mandracci, P. / Ricciardi, C. / Ferrero, S. / Sgorlon, C. / Richieri, G.

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Titel:

Structural and electrical characterization of epitaxial 4H-SiC layers for power electronic device applications

Beteiligte:

Scaltrito, L. (Autor:in) / Porro, S. (Autor:in) / Cocuzza, M. (Autor:in) / Giorgis, F. (Autor:in) / Pirri, C. F. (Autor:in) / Mandracci, P. (Autor:in) / Ricciardi, C. (Autor:in) / Ferrero, S. (Autor:in) / Sgorlon, C. (Autor:in) / Richieri, G. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 102 ; 298-303

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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