Precision Thickness Measurement of Ultra-Thin Films via XPS: Fid-Bau Portal

Precision Thickness Measurement of Ultra-Thin Films via XPS

Geng, S. / Zhang, S. / Onishi, H.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Precision Thickness Measurement of Ultra-Thin Films via XPS

Geng, S. / Zhang, S. / Onishi, H.

Precision Thickness Measurement of Ultra-Thin Films via XPS

Geng, S. / Zhang, S. / Onishi, H.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

Precision Thickness Measurement of Ultra-Thin Films via XPS

Beteiligte:

Geng, S. (Autor:in) / Zhang, S. (Autor:in) / Onishi, H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 437/438 ; 195-198

Erscheinungsdatum:

01.01.2003

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

Anast, M. / Bell, J. M. / Bell, T. J. et al. | British Library Online Contents | 1992

Thickness determination of thin and ultra-thin SiO2 films by C-AFM IV-spectroscopy

Frammelsberger, W. / Benstetter, G. / Kiely, J. et al. | British Library Online Contents | 2006

Thickness Measurement for Thin Films and Coatings Using Millimeter Waves

Han, H. C. / Mansueto, E. S. | British Library Online Contents | 1997

Ultra Precision Polishing of Thin Film Glasses

Sakai, K. / Karaki, T. / Kasai, D. T. et al. | British Library Conference Proceedings | 1997

Ultra-thin polymer films developed

British Library Online Contents | 1999

Nach oben