Structural analysis of NiO ultra-thin films epitaxially grown on ultra-smooth sapphire substrates by synchrotron X-ray diffraction measurements: Fid-Bau Portal

Structural analysis of NiO ultra-thin films epitaxially grown on ultra-smooth sapphire substrates by synchrotron X-ray diffraction measurements

Sakata, O. / Yi, M. S. / Matsuda, A. / Liu, J. / Sato, S. / Akiba, S. / Sasaki, A. / Yoshimoto, M.

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Titel:

Structural analysis of NiO ultra-thin films epitaxially grown on ultra-smooth sapphire substrates by synchrotron X-ray diffraction measurements

Beteiligte:

Sakata, O. (Autor:in) / Yi, M. S. (Autor:in) / Matsuda, A. (Autor:in) / Liu, J. (Autor:in) / Sato, S. (Autor:in) / Akiba, S. (Autor:in) / Sasaki, A. (Autor:in) / Yoshimoto, M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 221 ; 450-454

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

5 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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