Thermal diffusivity measurements of semiconducting amorphous GexSe100-x thin films by photothermal deflection technique: Fid-Bau Portal

Thermal diffusivity measurements of semiconducting amorphous GexSe100-x thin films by photothermal deflection technique

Mathew, A. / Ravi, J. / Madhusoodanan, K. N. / Nair, K. P. / Rasheed, T. M.

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Titel:

Thermal diffusivity measurements of semiconducting amorphous GexSe100-x thin films by photothermal deflection technique

Beteiligte:

Mathew, A. (Autor:in) / Ravi, J. (Autor:in) / Madhusoodanan, K. N. (Autor:in) / Nair, K. P. (Autor:in) / Rasheed, T. M. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 227 ; 410-415

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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