Midgap Defects in 4H-, 6H- and 3C-SiC Detected by Deep Level Optical Spectroscopy: Fid-Bau Portal

Midgap Defects in 4H-, 6H- and 3C-SiC Detected by Deep Level Optical Spectroscopy

Reshanov, S. A. / Schneider, K. / Helbig, R. / Pensl, G. / Nagasawa, H. / Schoner, A.

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Titel:

Midgap Defects in 4H-, 6H- and 3C-SiC Detected by Deep Level Optical Spectroscopy

Beteiligte:

Reshanov, S. A. (Autor:in) / Schneider, K. (Autor:in) / Helbig, R. (Autor:in) / Pensl, G. (Autor:in) / Nagasawa, H. (Autor:in) / Schoner, A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 457/460 ; 513-516

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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