Evaluation of Free Carrier Lifetime and Deep Levels of the Thick 4H-SiC Epilayers: Fid-Bau Portal

Evaluation of Free Carrier Lifetime and Deep Levels of the Thick 4H-SiC Epilayers

Tawara, T. / Tsuchida, H. / Izumi, S. / Kamata, I. / Izumi, K.

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Titel:

Evaluation of Free Carrier Lifetime and Deep Levels of the Thick 4H-SiC Epilayers

Beteiligte:

Tawara, T. (Autor:in) / Tsuchida, H. (Autor:in) / Izumi, S. (Autor:in) / Kamata, I. (Autor:in) / Izumi, K. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 457/460 ; 565-568

Erscheinungsdatum:

01.01.2004

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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