Correlation of Extended Defects on Carrier Lifetime in Thick SiC Epilayers: Fid-Bau Portal

Correlation of Extended Defects on Carrier Lifetime in Thick SiC Epilayers

Mahadik, N.A. / Stahlbush, R.E. / Caldwell, J.D. / O Loughlin, M.J. / Burk, A.A.

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Titel:

Correlation of Extended Defects on Carrier Lifetime in Thick SiC Epilayers

Beteiligte:

Mahadik, N.A. (Autor:in) / Stahlbush, R.E. (Autor:in) / Caldwell, J.D. (Autor:in) / O Loughlin, M.J. (Autor:in) / Burk, A.A. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 717/720 ; 297-300

Erscheinungsdatum:

01.01.2012

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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