Fachinformationsdienst BAUdigital

Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik

    Observation of dislocations in strain-relaxed silicon-germanium thin films with flat surfaces grown on ion-implanted silicon substrates

    Neue Suche nach: Yamanaka, J.
    Neue Suche nach: Sawano, K.
    Neue Suche nach: Nakagawa, K.
    Neue Suche nach: Suzuki, K.
    Neue Suche nach: Ozawa, Y.
    Neue Suche nach: Koh, S.
    Neue Suche nach: Hattori, T.
    Neue Suche nach: Shiraki, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Observation of dislocations in strain-relaxed silicon-germanium thin films with flat surfaces grown on ion-implanted silicon substrates

    Neue Suche nach: Yamanaka, J.
    Neue Suche nach: Sawano, K.
    Neue Suche nach: Nakagawa, K.
    Neue Suche nach: Suzuki, K.
    Neue Suche nach: Ozawa, Y.
    Neue Suche nach: Koh, S.
    Neue Suche nach: Hattori, T.
    Neue Suche nach: Shiraki, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Observation of dislocations in strain-relaxed silicon-germanium thin films with flat surfaces grown on ion-implanted silicon substrates

    Neue Suche nach: Yamanaka, J.
    Neue Suche nach: Sawano, K.
    Neue Suche nach: Nakagawa, K.
    Neue Suche nach: Suzuki, K.
    Neue Suche nach: Ozawa, Y.
    Neue Suche nach: Koh, S.
    Neue Suche nach: Hattori, T.
    Neue Suche nach: Shiraki, Y.

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Zugriff

    Zugriff über TIB
    Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen
    Bestellung bei Subito €

    Seitennavigation

    Dokumentinformationen
    Ähnliche Titel

    Exportieren, teilen und zitieren

    Dokumentinformationen
    Titel:

    Observation of dislocations in strain-relaxed silicon-germanium thin films with flat surfaces grown on ion-implanted silicon substrates

    Beteiligte:

    Yamanaka, J. (Autor:in) / Sawano, K. (Autor:in) / Nakagawa, K. (Autor:in) / Suzuki, K. (Autor:in) / Ozawa, Y. (Autor:in) / Koh, S. (Autor:in) / Hattori, T. (Autor:in) / Shiraki, Y. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE IN SEMICONDUCTOR PROCESSING ; 7 ; 389-392

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2004

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    1369-8001

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  621.38152

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

    Ähnliche Titel

    White luminescence emission from silicon implanted germanium

    Hernández, Angélica Guadalupe / Escobosa-Echavarría, Arturo Escobosa / Kudriavtsev, Yuriy | British Library Online Contents | 2018

    White luminescence emission from silicon implanted germanium

    Hernández, Angélica Guadalupe / Escobosa-Echavarría, Arturo Escobosa / Kudriavtsev, Yuriy | British Library Online Contents | 2018

    Activation of ion-implanted polycrystalline silicon thin films prepared on glass substrates

    So, B.-S. / Bae, S.-M. / You, Y.-H. et al. | British Library Online Contents | 2012

    Dislocations in SrTiO~3 thin films grown on LaAlO~3 substrates

    Qin, Y. L. / Jia, C. L. / Urban, K. et al. | British Library Online Contents | 2002

    Avoiding end-of-range dislocations in ion-implanted silicon

    Acco, S. / Custer, J. S. / Saris, F. W. | British Library Online Contents | 1995

    Nach oben