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Saka, H.

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Titel:

Impact of a Combined Use of Focused Ion Beam Technique and Transmission Electron Microscopy on Materials Characterization

Beteiligte:

Saka, H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE FORUM ; 475/479 ; 9-20

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

12 pages

ISSN:

0255-5476

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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