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    Titel:

    Plan-view observation of crack tips by focused ion beam/transmission electron microscopy

    Beteiligte:

    Saka, H. (Autor:in) / Abe, S. (Autor:in) / Lukas, P.

    Erschienen in:

    11th International Conference on the Strength of Materials ; 552-554

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING -LAUSANNE- A ; 234/236

    Erscheinungsdatum:

    01.01.1997

    Format / Umfang:

    3 pages

    ISSN:

    0921-5093

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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