Residual stress and structure characteristics in PZT ferroelectric thin films annealed at different ramp rates: Fid-Bau Portal

Residual stress and structure characteristics in PZT ferroelectric thin films annealed at different ramp rates

Lu, S. / Zuo, C. / Zeng, H. / Huang, W. / Ji, H.

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Titel:

Residual stress and structure characteristics in PZT ferroelectric thin films annealed at different ramp rates

Beteiligte:

Lu, S. (Autor:in) / Zuo, C. (Autor:in) / Zeng, H. (Autor:in) / Huang, W. (Autor:in) / Ji, H. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS LETTERS ; 60 ; 255-260

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

6 pages

ISSN:

0167-577X

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.1105 / 530

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