Optical and structural study of Ge/Si quantum dots on Si(100) surface covered with a thin silicon oxide layer: Fid-Bau Portal

Optical and structural study of Ge/Si quantum dots on Si(100) surface covered with a thin silicon oxide layer

Fonseca, A. / Alves, E. / Leitao, J. P. / Sobolev, N. A. / Carmo, M. C. / Nikiforov, A. I.

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Titel:

Optical and structural study of Ge/Si quantum dots on Si(100) surface covered with a thin silicon oxide layer

Beteiligte:

Fonseca, A. (Autor:in) / Alves, E. (Autor:in) / Leitao, J. P. (Autor:in) / Sobolev, N. A. (Autor:in) / Carmo, M. C. (Autor:in) / Nikiforov, A. I. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 124-125 ; 462-465

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0921-5107

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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