AES depth profiling and interface analysis of C/Ta bilayers: Fid-Bau Portal

AES depth profiling and interface analysis of C/Ta bilayers

Zalar, A. / Kovac, J. / Pracek, B. / Hofmann, S. / Panjan, P.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

AES depth profiling and interface analysis of C/Ta bilayers

Zalar, A. / Kovac, J. / Pracek, B. / Hofmann, S. / Panjan, P.

AES depth profiling and interface analysis of C/Ta bilayers

Zalar, A. / Kovac, J. / Pracek, B. / Hofmann, S. / Panjan, P.

Zugriff

Zugriff über TIB

Verfügbarkeit in meiner Bibliothek prüfen

Bestellung bei Subito €

Seitennavigation

Dokumentinformationen

Ähnliche Titel

Exportieren, teilen und zitieren

Dokumentinformationen

Titel:

AES depth profiling and interface analysis of C/Ta bilayers

Beteiligte:

Zalar, A. (Autor:in) / Kovac, J. (Autor:in) / Pracek, B. (Autor:in) / Hofmann, S. (Autor:in) / Panjan, P. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 2056-2062

Erscheinungsdatum:

01.01.2005

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

Nojima, M. / Maekawa, A. / Yamamoto, T. et al. | British Library Online Contents | 2006

Compositional depth profiling of ultrathin oxynitride/Si interface using XPS

Kato, H. / Nishizaki, K. / Takahashi, K. et al. | British Library Online Contents | 2002

Positron Depth Profiling

Coleman, P. G. | British Library Online Contents | 2001

Sputter Depth Profiling

King, B. V. | Springer Verlag | 1992

Depth-Variable Thermoelectric Depth Profiling of Surface Coatings

Lukhvich, A. A. / Sharando, V. I. / Novikov, S. A. | British Library Online Contents | 1999

Nach oben