Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
Study of silicon-organic interfaces by admittance spectroscopy
Kar, S. (Autor:in)
APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 3961-3967
01.01.2006
7 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
621.35
© Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.
Admittance spectroscopy of GaAs/InGaP MQW structures
British Library Online Contents | 2008
|TIBKAT | 1978
|Electrical characterisation of epitaxial 6H-SiC by admittance spectroscopy
British Library Online Contents | 1996
|