Eine Plattform für die Wissenschaft: Bauingenieurwesen, Architektur und Urbanistik
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Electrical characterisation of epitaxial 6H-SiC by admittance spectroscopy
Electrical characterisation of epitaxial 6H-SiC by admittance spectroscopy
Electrical characterisation of epitaxial 6H-SiC by admittance spectroscopy
Raynaud, C. (Autor:in) / Ducroquet, F. (Autor:in) / Brounkov, P. N. (Autor:in) / Guillot, G. (Autor:in) / Porter, L. M. (Autor:in) / Davis, R. F. (Autor:in) / Jaussaud, C. (Autor:in) / Billon, T. (Autor:in)
MATERIALS SCIENCE AND TECHNOLOGY -LONDON- ; 12 ; 94-97
01.01.1996
4 pages
Aufsatz (Zeitschrift)
Englisch
DDC:
620.11
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