Characterization of the Ba(SnxTi1-x)O3 thin films prepared by radio frequency magnetron sputtering: Fid-Bau Portal

Characterization of the Ba(SnxTi1-x)O3 thin films prepared by radio frequency magnetron sputtering

Huang, H. H. / Wang, M. C. / Chen, C. Y. / Wu, N. C. / Lin, H. J.

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Titel:

Characterization of the Ba(SnxTi1-x)O3 thin films prepared by radio frequency magnetron sputtering

Beteiligte:

Huang, H. H. (Autor:in) / Wang, M. C. (Autor:in) / Chen, C. Y. (Autor:in) / Wu, N. C. (Autor:in) / Lin, H. J. (Autor:in)

Erschienen in:

MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING A ; 433 ; 279-285

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

7 pages

ISSN:

0921-5093

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 620.11

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