Study of asymmetric charge writing on Pb(Zr,Ti)O3 thin films by Kelvin probe force microscopy: Fid-Bau Portal

Study of asymmetric charge writing on Pb(Zr,Ti)O3 thin films by Kelvin probe force microscopy

Shen, J. / Zeng, H. / Wang, Z. / Lu, S. / Huang, H. / Liu, J.

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Titel:

Study of asymmetric charge writing on Pb(Zr,Ti)O3 thin films by Kelvin probe force microscopy

Beteiligte:

Shen, J. (Autor:in) / Zeng, H. (Autor:in) / Wang, Z. (Autor:in) / Lu, S. (Autor:in) / Huang, H. (Autor:in) / Liu, J. (Autor:in)

Erschienen in:

APPLIED SURFACE SCIENCE ; 252 ; 8018-8021

Erscheinungsdatum:

01.01.2006

Format / Umfang:

4 pages

ISSN:

0169-4332

Medientyp:

Aufsatz (Zeitschrift)

Format:

Sprache:

Englisch

Klassifikation:

DDC: 621.35

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