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    Dokumentinformationen
    Titel:

    Relaxation of strain in patterned strained silicon investigated by UV Raman spectroscopy

    Beteiligte:

    Himcinschi, C. (Autor:in) / Radu, I. (Autor:in) / Singh, R. (Autor:in) / Erfurth, W. (Autor:in) / Milenin, A. P. (Autor:in) / Reiche, M. (Autor:in) / Christiansen, S. H. (Autor:in) / Gosele, U. (Autor:in)

    Erschienen in:

    MATERIALS SCIENCE AND ENGINEERING B -LAUSANNE- ; 135 ; 184-187

    Erscheinungsdatum:

    01.01.2006

    Format / Umfang:

    4 pages

    ISSN:

    0921-5107

    Medientyp:

    Aufsatz (Zeitschrift)

    Format:

    Print

    Sprache:

    Englisch

    Klassifikation:

    DDC:  620.11

    © Metadata Copyright the British Library Board and other contributors. All rights reserved.

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